Sonde de Test logique LP-1 pour réparation de carte mère

65,000 TND
TTC
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Pour TTL/CMOS/DTL

4 états détectables : HI/LO/Pulse/Hi-Impedance

Fréquence d'entrée maximale : 20 MHz

Fonction de mémoire d'impulsions

Opération d'une seule main

Protection contre l'inversion de polarité de puissance

Alimentation : 3-18VCC

1000-00980

Références spécifiques